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EETOP创芯大讲堂培训自开办以来,每天收到的问题最多的就是同学对集成电路产业未来发展前景及岗位薪酬方面的咨询,为了系统的给大家做一个全方位的介绍,EETOP本次邀请到创芯大讲堂职业培训畅销课程《数字芯片验证入门到实战》 主讲老师Jack。
下面介绍一些常用集成电路好坏检测的方法。 1.开路测量电阻法 开路测量电阻法是指在集成电路未与其他电路连接时,通过测量集成电路各引脚与接地引脚之间的电阻来判别好坏的方法。 集成电路都有一个接地引脚(GND),其他各引脚与接地引脚之间。
深耕高精度、低噪声Sigma-DeltaADC技术,2012年在国内针对智能传感器信号测量领域较早推出带24位高精度ADC的SoC芯片并成功实现商业化,其中ADC的等效输入噪声低至22nVrms,精度有效位数高达21位,在同类SoC芯片中达到国内领先、国际先进的水平。
2019年华为被纳入实体名单后,TI、ADI等美国模拟IC大厂向华为供货受限,进一步加速国内模拟芯片领域的国产替代节奏。聚焦ADC领域,全球主要供应商仍是TI、ADI为首的几家国际大厂,而高性能ADC在军用领域、高端医疗器械以及精密测量等领域起着至。
下图3-6是一个典型的车载ADAS域功能结构示意图,无论硬件方案如何变化,各方案所需实现的功能结构都是类似的。 图3-6 典型的车载ADAS域功能结构示意图3.1 Mobileye EyeQ系列芯片方案 Mobileye成立于1999年,是以色列提供基于视觉算法分析和。
其中BMS芯片的意义在于对锂电池做电压温度检测、做短路/断路的保护措施、对电流实行实时检测等等。BMS芯片并非特指一种芯片，而是AFE（电池采样芯片）、MCU（微控制处理单元）、ADC（模拟数字转换器）、数字隔离器等产品的统称。据业界消息。
通过分析ADC采集的数据,即可实现对光照强度的分析处理,ADC8032是一款高精度的模拟量转数字量的ADC模块,其采用两根总线进行信号传输,属于串行通信,分别通过传输时钟信号传输和数据信号,通过光敏电阻,分压电路以及ADC模块组成光照强度检测模块。
基于MatrixSemi®,聚时科技先后推出了聚芯2000半导体LF基板与引线框架AOI检测设备、聚芯5000半导体晶圆级ADC检测分析设备、即将发布聚芯3000通用芯片2D/3D精密量测与检测设备,应用于半导体客户晶圆级与先进封装制程领域。同时,结合客户实际需。
DAC和ADC芯片必须执行一些特定的静态和动态参数检测。下一面一一介绍这些指标: DAC静态参数指标 分辨率(Resolution)是指DAC输出端所能变化的最小值。 满量程范围(FSR), 是指DAC输出信号幅度的最大范围,不同的DAC有不同的满量程范围。
1、时钟芯片DS1302(如何设置时间和获取时间、什么是内部的涓流充电、如何使用芯片内的RAM寄存器、如何采用ADC测量纽扣电池电压) 2、红外遥控器NEC 3、OLED单色屏 4、TFT彩色屏ST7735 54-55天 1、EEPROM芯片AT24C02 2、Flash芯片W25Q32。
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