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ADC的静态参数是指在低速或者直流流入ADC芯片测得的各种性能参数。静态参数测试方法有逐点测试法等,其主要测试过程如图1所示。 (1)零点误差的测量 零点误差又称输入失调,是实际模数转换曲线中数字0的代码中点与理想模数转换曲线中数字0的。
其中ADC在总需求中占比接近80％。ADC／DAC是整个模拟芯片皇冠上的明珠，核心难度有两点：抽样频率和采样精度难以兼得（高速高精度ADC壁垒最高）以及需要整个制造和研发环节的精密配合。ADC关键指标包括“转换速率”和“转换精度”，其中高速。
ADC芯片采用带插值平均的Flash结构,集成约1250只晶体管。测试结果表明,芯片可以在8GHz时钟频率下稳定工作,最高采样频率可达9GHz。超高速DAC芯片采用基于R-2R的电流开关结构,同时集成了10Gbps自测试码流发生电路,共包含1045只晶体管。测试。
但是这些模拟信号都得最终放在数字领域进行处理,存储或者传输,那如何把模拟信号转换成数字信号呢?对的,机智如你,我们需要一个转换器,它就是芯片界的老牌贵族—ADC! 说它老牌,因为第一个ADC芯片是由IBM的M. Klein于1974年发明,到2019。
本文只考虑用户可以修改和控制的范畴,如修改外围硬件设计减少输入误差、调节芯片参数减少输入和转换误差、软件滤波减少输出误差。围绕这3个环节可细化分解为:硬件RC滤波输入信号的影响、供电电源滤波的影响、芯片工作时钟频率的影响、芯片的ADC。
该款采用SiCMOS工艺的单通道超高速ADC芯片研制成功,真正实现了宽输入信号频率、高采样频率的工作状态。其性能指标达到国内领先水平并接近国际水平,在超宽带(ultra wideband UWB)通信系统、宽带测试的测量仪器和仪表等领域有着广泛的应用。
如果是N位ADC,则把信号幅度值(也就是纵轴)进行2^N次均匀分割,采样点落入哪个区间,就取这个区间所对应的二进制值(N位),这么做就实现了无限个值变成有限个值的目的了。如图3-5所示。图3-5 量化示意图上述的采样和量化两个阶段,。
除此之外,还有很多的特定应用市场对国产ADC来说依然是“门难进”,如医疗电子、测试测量仪器仪表等对芯片性能和质量的要求高于对芯片成本的行业,由于没有给予足够的“试错”机会,加之国际巨头也全力提高技术护城河(像ADI、TI都推出了针对。
AD5933 是一款高精度的阻抗测量芯片,内部集成了带有12位,采样率高达1MSPS的AD转换器的频率发生器。这个频率发生器可以产生特定的频率来激励外部电阻,电阻上得到的响应信号被ADC采样,并通过片上的DSP进行离散的傅立叶变换。傅立叶变换后。
该芯片的内核包括3个主要单元:用于提供频率扫描的直接数字频率合成器(DDS)波形发生器; 用于测量传感器的响应的12 bit、1 MSPS ADC;以及最后能够对ADC测量数据进行1024点离散傅立叶变换(DFT)运算的DSP引擎。
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