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测试原理 1. 1 静态参数的测试原理 ADC的静态参数是指在低速或者直流流入ADC芯片测得的各种性能参数。静态参数测试方法有逐点测试法等,其主要测试过程如图1所示。 (1)零点误差的测量 零点误差又称输入失调,是实际模数转换曲线中数字0的。
就算是经过采样,采样点的值依旧是模拟信号本身的值,该多少是多少,没有变化,那么多的值,而且还有可能各不相同,那处理起来同样是很困难啊。为了把无限多个值,变成有限个值,就需要用量化这个技术了。如果是N位ADC,则把信号幅度值(也就。
超高速ADC/DAC芯片在光通讯及无线宽带通信领域有广阔的应用前景。这两款芯片的研制成功,大大提升了国内单片高速ADC和DAC电路的最高采样频率,也为今后研制更高性能ADC/DAC电路打下了坚实的基础。
芯片世界中的ADC,全称是Analog-to-Digital Converter, 模拟数字转换器!它是连接模拟世界与数字世界的桥梁,说的文艺一点,是ADC为这两个世界带来了爱情。 从宏观上看,自然界产生的信号,都是模拟信号,比如我们说话的声音,我们看到的图像,。
本文只考虑用户可以修改和控制的范畴,如修改外围硬件设计减少输入误差、调节芯片参数减少输入和转换误差、软件滤波减少输出误差。围绕这3个环节可细化分解为:硬件RC滤波输入信号的影响、供电电源滤波的影响、芯片工作时钟频率的影响、芯片的ADC。
该款采用SiCMOS工艺的单通道超高速ADC芯片研制成功,真正实现了宽输入信号频率、高采样频率的工作状态。其性能指标达到国内领先水平并接近国际水平,在超宽带(ultra wideband UWB)通信系统、宽带测试的测量仪器和仪表等领域有着广泛的应用。
其中ADC在总需求中占比接近80％。ADC／DAC是整个模拟芯片皇冠上的明珠，核心难度有两点：抽样频率和采样精度难以兼得（高速高精度ADC壁垒最高）以及需要整个制造和研发环节的精密配合。ADC关键指标包括“转换速率”和“转换精度”，其中高速。
说是“表“,其实也就是模拟前端的电路而已,数据的处理和显示都在其它板子上,用的是MCU内部的ADC,当然如果你用的MCU实在穷得连个ADC都没有,那这个板子还提供了一个串行的ADC芯片。 原文是英文的,喜欢原汁原味阅读技术资料的同学们。
3) 数字时钟频率50MHZ,采样频率25MHZ,输入波频率2MHZ～36MHZ。 此ADC 的测试,选用Agilent 的SOC 93000 测试系统。由于芯片有一对差分 输入,共模电压为1.5 V,Vp-p 为1V, 这意味着模拟输入电压范围是1～2V。 这样模拟输入精度就。
双音互调失真(TMD)等?本文讨论了利用数字方法对ADC的信噪比进行测试,计算出有效位数,并通过测试证明了提高采样频率能改善SNR,相当于提高了ADC的有效位数?在本系统中使用了AD9224,它是12bit?40MSPS?单5V供电的流水线型低功耗ADC?
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